VIP会员
MicronX型荧光测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。
检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍。通过高精密度样品台可提供元素面分布图。
可对多达7层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。
主营：www.yunshiji.cn
VIP会员
>
本网页所展示的有关【荧光测厚仪_测厚仪_科学粮草官】的信息/图片/参数等由云试剂的会员【科学粮草官】提供，由云试剂会员【科学粮草官】自行对信息/图片/参数等的真实性、准确性和合法性负责，本平台（本网站）仅提供展示服务，请谨慎交易，因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决，本平台（本网站）对此不承担任何责任。您在本网页可以浏览【荧光测厚仪_测厚仪_科学粮草官】有关的信息/图片/价格等及提供【荧光测厚仪_测厚仪_科学粮草官】的商家公司简介、联系方式等信息。
在您的合法权益受到侵害时，欢迎您向邮箱发送邮件，或者进入《网站意见反馈》了解投诉处理流程，我们将竭诚为您服务，感谢您对云试剂的关注与支持！
400-6226-992
粤公网安备44196802000105号
