LambdaVisionTFW-100分光膜厚仪

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由于LambdaVisionTFW-100分光膜厚仪是非接触式和非破坏性的，因此可以在不损坏样品的情况下快速方便地进行测量。广泛用于研发和在线质量控制中的薄膜厚度测量。高精度、高稳定性

LambdaVisionTFW-100分光膜厚仪特点

可以非接触、非破坏性方式测量薄膜厚度

厚度范围从10nm到1000μm，多可测量三层

不仅能测量薄膜厚度，还能测量光学乘数（n、k）(多达3个总参数）

支持微小点测量

还可测量滤光片颜料膜厚

LambdaVisionTFW-100分光膜厚仪测量原理

假设在折射率为n2的基底上有一层厚度为d、折射率为n1的薄膜，如图所示。考虑从空气（折射率n0）入射到薄膜上的光线。光在美丽的路径上被反射，在穿过薄膜并反射到基底表面的成分中，还有一个成分从薄膜中射出，可以作为反射光被捕获。由于光是一种波，这些反射成分会相互干涉。考虑到入射光垂直于基底入射，这种干涉的减弱和加强取决于光学膜厚度nd（即绝对膜厚度n乘以厚度d）和波长。

LambdaVisionTFW-100分光膜厚仪技术规格