SR-C反射膜厚仪_测厚仪_物性测定_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	颐光科技
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

一、概述

SR-C

系列紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。

■ 光学薄膜测量解决方案；

■ 非接触、非破坏测量；

■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析；

■是

膜厚重复性测量精度：0.02nm

■ 配置灵活、支持定制化

二、产品特点

ngstyle="font-size:12px;">■ 采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围；

ngstyle="font-family:微软雅黑;">■ 采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；

ngstyle="font-family:微软雅黑;">■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；

ngstyle="font-family:微软雅黑;">■ 配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息；

三、产品应用

广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。

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