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仪器简介：
测量薄膜或片状材料的厚度均匀性
附件：
台式支座
样品砧
标准测头
可选配重使样品的压力达到要求
可选测量V型缺口深度刀头.
技术参数：
分辨率可至0.001mm
测厚范围为12.5mm或25mm
手动置零装置
串行输出口用于连接打印机
锂电池(3V),工作时间4000小时
主要特点：
测量薄膜或片状材料的厚度均匀性
可测量V型缺口深度.
主营：www.yunshiji.cn
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