德国IONTOF TOF-SIMS系统

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全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）先进科技

       M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。

       此外，在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项，重新设计了加热和冷却系统；在软件方面新增了多元统计分析（MVSA）软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的高端性能。

       新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱（SIMS）仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。

全新 M6 具有以下突出优势：

• 1      新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm)

• 2      质量分辨率 > 30,000

• 3      独特的延迟提取模式可同时实现高传输，高横向质量

• 4      广域的动态范围和检测限

• 5      用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS

• 6      先进智能的 SurfaceLab 7 软件，包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包

• 7      新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统，可长期无人值守运行

有关TOFSIMS的更多资料，请移步我司官网：http://www.iontof.com.cn/bk_22421317.html