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- 详细介绍
K-Alpha X 射线光电子能谱仪
Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪 (XPS)系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。K-Alpha XPS系统是一种完全集成式单色小光斑XPS系统，具备深度剖析能力。
更先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量，使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。
K-Alpha XPS系统性能数据
分析仪类型 180°双聚焦半球分析仪， 128通道探测器
X 射线源类型 单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源
X 射线光斑尺寸 50-400 µm（以 5µm 为单位可调）
深度剖析 EX06 离子源
样品最大面积 60x60 mm
样品最大厚度 20 mm
真空系统 两个涡轮分子泵，配有自动钛升华泵和机械泵
可选配件 ADXPS 样品 支架， 工作 功能 样品 支架， 手套 箱
- 产品优势
- 高性能X射线源
K-Alpha X射线光电子能谱仪配备的X射线单色器允许在50 µm 至 400 µm 的分析区域内以 5 µm 的步长进行选择选择 ，以寻求所需的信号最大化。
优异的电子光学系统
高效电子透镜、半球形分析仪和检测器，让K-Alpha X射线光电子能谱仪可实现卓越的检测和快速数据采集。
样品视图
使用K-Alpha XPS系统的专利光学观察系统和XPS SnapMap聚焦样品，帮助您快速确定分析测试区域。
深度剖析
使用K-Alpha X射线光电子能谱仪所配备的EX06离子源进行更深层表面的分析。自动源优化和气体处理功能确保卓越的性能和实验重现性。
可选样品台
提供与K-Alpha X射线光电子能谱仪相匹配的各种特殊样品台供您选择，包括用于变角 XPS、样品加偏压测试，或从手套箱惰性转移样品等等。
绝缘样品分析
在K-Alpha X射线光电子能谱仪中，获得专利的双束电子源将低能量离子束与低能量的电子（小于 1 eV）耦合，防止分析过程中的样品带电，从而在大多数情况下消除了荷电效应。
数码控制
由 Avantage 数据系统指导的直观操作使 K-Alpha XPS 系统成为多用户、测试中心和注重高效操作和高测试量的 XPS 专家的理想选择。
粤公网安备44196802000105号
400-6226-992