X射线能谱仪

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牛津仪器独特的外部PentaFET技术和圆型SDD晶体的结合，第一款适合定量分析的分析型电制冷能谱.分辨率高，体积小巧,性能稳定,分析速度是液氮制冷能谱的10倍。且无需风扇及循环水制冷，无需添加液氮。
超大面积能谱探头有效面积为20mm2，同等条件下，信号的强度为传统的10mm2的2倍，进一步显示了SDD的速度优势。同等的计数率时，需要的电镜束流为10mm2的1/2,大大提高了能谱的空间分辨率，对于微区的分析非常有利
技术参数
窗口，20mm2大面积活区；
在MnKα处的分辨率:优于129eV (计数率1,000-100,000cps)；
稳定性: 1,000cps100,000cps
谱峰漂移<1eV，分辨率变化<1eV，48小时内谱峰漂移<1eV (Mn Ka)
峰背比20,000: 1 (Fe 55, Mn Ka)
分析元素范围：Be4-Pu94
圆形SDD晶体
高性能，低噪声，独立封装FET场效应管
两级电子制冷
不用时无需通电，即热循环设计
ZL的探测器自动优化功能，确保轻元素性能长期优良；
ZL的X-sight电荷复位技术；