Compass300 便携式 X 射线荧光光谱仪测定富钴结壳碎片

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Compass300 便携式 X 射线荧光光谱仪测定富钴结壳碎片

便携式X射线荧光光谱仪具有快速无损分析的特点。我们开发并研究了便携式X射线荧光光谱仪Compass300在富钴地壳碎片和浅钻孔岩心现场原位分析中的应用。采用样品制备方法，以富钴结壳国家标准物质和多金属结核国家标准物质为校准样品，利用便携式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品的校准曲线。该方法经国标物质GBW 07339验证，元素Mn、Fe、Co、Ni、Cu的精密度（RSD）在0.3%～3.0%之间，满足富钴现场分析要求。地壳样品。在近海资源勘探现场，使用便携式X射线荧光光谱仪Compass300破除富钴结壳。对块体和浅层钻芯的原始样品进行了原位分析。将干燥后的原始富钴结壳碎片的直接测试分析数据与实验室压实样品的XRF分析数据进行对比，表明Mn、Fe、Co、Ni和Cu元素的测量值符合良好；浅层岩心原位分析数据与实验室人工分层分析数据对比表明，各层Mn、Fe、Co、Ni、Cu元素直接测试数据与实验室压缩样品XRF分析结果一致数据分布趋势基本一致。实际应用研究表明，便携式X射线荧光光谱仪Compass300适用于现场原位分析，满足现场富钴结壳资源快速评价的要求。同时，原位分析可以更真实地反映原始的富钴结构。地壳核不同层中各种元素的变化特征为进一步研究富钴地壳成矿机制提供了更丰富的数据。