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仪器描述
规格 - XP2U超微量天平
| 极限值 | XP2U |
| zei大称量值 | 2.1 g |
| 可读性 | 0.0001 mg |
| 重复性(sd) - 加载处 | 0.00025 mg |
| - 低加载（加载处） | 0.0002 mg (0.2 g) |
| 线性误差 | 0.001 mg |
| 灵敏度漂移 | 1.5 x 10-5 |
| 灵敏度温度漂移 2) | 0.0001 %/°C |
| 灵敏度稳定性 3) | 0.0001 %/a |
| 典型值 4) | |
| 典型重复性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr |
| 典型微分非线性（sd） | √8x(10-14) · g · R_nt |
| 典型灵敏度偏移（sd）2) | 3x(10-6)· R_nt |
| 典型zei小称量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr |
| 典型zei小称量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr |
| 典型稳定时间 | < 10 s |
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 第一次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和zei小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
梅特勒XP2U超微量天平,XP2U
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粤公网安备44196802000105号
400-6226-992