开尔文感应结构的测试插座半导体参数测试仪

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系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。

面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

应用领域

院所、高校、半导体器件生产厂商、

电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、

新能源汽车、轨道机车检修等

设备用途

测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等