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Co-Aligned HP
全波段高光谱成像仪 核心参数
波长范围 400-2500nm

产品特点

Co-Aligned HP 高光谱成像仪的光谱范围为400-2500nm,即一台设备直接覆盖可见光到短波红外的光谱范围。其应用包括树种分类、高光谱探矿、地质灾害调查、矿物精细识别、高光谱找矿、矿物填图、火山监测等。

Co-Aligned HP集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪,其中,VNIR (400-1000nm)的感光元件为低功耗,高灵敏度的 CMOS传感器,像元尺寸为5.86μm,SWIR(900-2500nm)的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器,像元尺寸为15μm,而分光光路均基于Headwall公司核心技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术,不仅保证了极低杂散光和成像畸变,同时也具有极高的热稳定性和信噪比。

另外,Co-Aligned HP结构紧凑,是一套完整的Turnkey解决方案,重量仅为4.0kg,内部除了集成有高光谱成像仪外,同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块,高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中,系统配有大尺寸反射率定标毯,尺寸为3*3m,包含三种梯度反射率,可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正,反射率校正和几何校正等。

Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成,专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。

详细介绍


Co-Aligned HP 高光谱成像仪的光谱范围为400-2500nm,即一台设备直接覆盖可见光到短波红外的光谱范围。其应用包括树种分类、高光谱探矿、地质灾害调查、矿物精细识别、高光谱找矿、矿物填图、火山监测等。


Co-Aligned HP集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪,其中,VNIR (400-1000nm)的感光元件为低功耗,高灵敏度的 CMOS传感器,像元尺寸为5.86μm,SWIR(900-2500nm)的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器,像元尺寸为15μm,而分光光路均基于Headwall公司核心技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术,不仅保证了极低杂散光和成像畸变,同时也具有极高的热稳定性和信噪比。


另外,Co-Aligned HP结构紧凑,是一套完整的Turnkey解决方案,重量仅为4.0kg,内部除了集成有高光谱成像仪外,同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块,高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中,系统配有大尺寸反射率定标毯,尺寸为3*3m,包含三种梯度反射率,可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正,反射率校正和几何校正等。


Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成,专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。


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