产品特点
详细介绍
产品介绍:
新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM,该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上,快速提供所需微观形貌及实时成分信息,帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据,准确执行故障分析和缺陷检测。
Axia ChemiSEM 主要技术参数及特点:
•通用型 SEM 系统,可涵盖多种类型样品。可分析绝缘材料、处理大而重(达10 kg)的样品,同时能够分析常规的小尺寸样品。
•灵活性 SEM 系统,支持各类功能附件。
•使用便捷,不依赖于用户操作水平、能够便捷提供元素或化学信息。
•高度自动化,自动对中技术确保系统始终处于zui佳工作状态,用户指南及撤销功能帮助用户更轻松操作系统。
•处理效率zui高:实时定量成分分析成像,更快获得定量分析数据。
•分辨率:3nm@30kV,8nm@3kV
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技术文章
- 电子通道衬度成像(ECCI)原理及在晶体缺陷分析中的应用
解决方案
- 工业中的 SEM 和 EDS 分析
- 增材制造材料表征
- 使用 Axia ChemiSEM 评估电池材料中的污染物
- 使用Axia ChemiSEM表征钢铁生产中复杂耐火材料