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详细介绍
卓越的性能
受控的反应化学过程提供一致、可靠的结果
分离重叠的同量异位素，超越高分辨率 ICP-MS 的能力
极低检测限，甚至可用于以前难以检测的元素，例如 S、Si、P
功能强大的ICP-MS MassHunter 软件可简化您的工作流程并使方法开发自动化
无与伦比的灵活性
标准 4 通道反应池气体控制
独特的母离子/子离子扫描模式，清除呈现反应过程
用于研究和方法开发的最出色和最通用的 ICP-MS
强大的技术助您完成前所未有的更多工作
监测原料化学品和硅片加工浴中的低水平超痕量污染物
定量分析未知蛋白质和多肽，以准确测量低浓度的异质元素硫和磷
对复杂环境、食品和生物样品中低至亚 50 纳米的纳米颗粒进行表征
以更高的准确度测量所有食品样品中的低浓度硒、砷和各种形态的砷
技术资料
- 更新您的 ICP Expert 软件
- 简化药物的元素杂质分析的 QC 过程（适用于 ICP-OES）
解决方案
- 国产化半导体光刻胶元素分析知多少
- 使用 spICP-MS/MS 对半导体制程化学品进行多元素纳米颗粒分析
- 使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 在冷等离子体反应池模式下测量超纯水中的超痕量钾及其他元素
- 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高纯度铜中的超痕量杂质
- 安捷伦 ICP-MS 联用技术应用文集
粤公网安备44196802000105号
400-6226-992