变温-变磁场-VMF扫描探针显微镜系统

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近来，纳米尺度下材料磁性的研究越来越引起科学家的重视，利用扫描探针显微镜研究材料在外加磁场存在的条件下的局部磁学行为对于发展磁性材料和器件显得尤为重要。目前在超高真空扫描探针显微镜中施加磁场的方法主要有两种：一是在极低温下利用超高磁铁提供几个Tesla的磁场。虽然这种方法得到的磁场较强，但是仪器本身的费用和日常的维护维持费用相当高；另外一种方法是在超高真空腔体外缠绕电磁线圈，这种方法使得整个腔体的体积变得很大，所需要的电流也很高，而得到的磁场的强度却相对较低，一般为几百Gauss。

针对这种现状，RHK Technology的工程师们经过仔细摸索、反复实验，将扫描探针显微镜与变磁场环境wan美结合，推出了全新结构的超高真空变温-变磁场扫描探针显微镜系统，该系统可以将从电磁线圈散发出来的热量屏蔽到超高真空腔体之外，所施加的磁场为面内连续可逆的，zui高强度为10,000Gauss。磁场的施加不会影响SPM的扫描精度、分辨率、热漂移控制、稳定性和振动隔离等性能；样品温度变化范围为25K->1500K。

RHK变温-变磁场扫描探针显微镜系统（STM/AFM）具有以下五个特点：

1）SPM扫描过程中连续变化磁场，且无需将SPM探针退回；

2）所施加的磁场为面内的，zui高达10,000Gauss；样品尺寸约1cm；

3）利用电磁铁提供可逆、连续变化的磁场；

4）磁场强度精确可控，重复性极好；

5）磁场的施加对SPM扫描精度、分辨率、稳定性和振动隔离没有任何影响。