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产品特点
详细介绍
主要用途
CRESBOX半自动四探针测试仪可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻。
特点
? 具有图谱软件功能，可作二维、三维图形；
? 具有厚度/边缘/温度补偿功能；
? 全覆式暗箱测试清除测量环境干扰；
? 内含温度传感器
? USB接口。
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主要用途
CRESBOX半自动四探针测试仪可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻。
特点
? 具有图谱软件功能，可作二维、三维图形；
? 具有厚度/边缘/温度补偿功能；
? 全覆式暗箱测试清除测量环境干扰；
? 内含温度传感器
? USB接口。
400-6226-992
粤公网安备44196802000105号
