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600DID\100DID

系统名称

硅烷中杂质分析检测系统。

设计思路

我公司设计的“高纯气分析检测系统”包括以下主要设计思路:

●  专台专用,在完全满足检测要求的前提下,优化组合配套;

●  仪器的选型配套,要符合实验室的使用要求,并且便于分析人员的操作;

●  提供人性化的售后服务和支持,保证使用方能独立操作。

技术优势

我公司设计的“高纯气分析检测系统”方案拥有以下技术优势:

●  色谱仪的部件----检测器完全基于爱尔兰AGC公司的自主研发, 具有较高的灵敏度、较好的稳定性;

●  色谱仪的气路系统----独到的中心切割、反吹系统技术,可以完成多种复杂成分的分析检测;

●  色谱仪的软件系统----专门为AGC色谱配套研发的Trend Vision除完成测试、自动分析/存储数据,自动绘制谱图、反控气相色谱、调节保留时间及各种切割动作外,多可同时控制4台分析仪器;

●  本方案中所配套的露点仪,为行业内先进的气体分析仪器,可以完全满足实验室高纯气体的检测。

 

 

方案详解

方案总述

 硅烷中H2O2N2CH4COCO2杂质分析

推荐仪器:AGC 100DID气相色谱仪

数量:1

 特气分析专用吹扫系统一套

硅烷中H2/O2/N2/CH4/CO/CO2杂质分析----AGC100DI

检测器工作原理

nnecttype="rect" o:extrusionok="f">放电离子化检测器的结构如图1所示。该检测器由电离室和放电室两部分组成,两室之间有狭路相通。当在放电室内的两个高压电极上加以适量高压电后,两电极之间就会产生放电,从而得到一束高能量的紫外光辐射(400500nm)。高能紫外光被引入射向电离室内,在这过程中,高能光子直接照射样品成份中被测杂质分子,使其电离形成离子,或者高能光子首先将载气氦原子激发至亚稳态(He*),然后具有较高能量的He*再与样品中杂质分子发生非弹性碰撞并使其电离。此时在集电极上加以适当电压收集被电离的杂质分子,并将其信号放大记录即得到被测成份的谱峰。由于光子具有较高能量(24.8ev),因此可使包括氖在内的一切物质分子电离,所以,DID是一种高灵敏度、通用型检测器。

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  图1DID检测器

 

 

 
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