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ST4000-DLX
仪器描述

产品简介:

  • 标准模式
  • 工业规格
  • 适合科研中心 

 

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 尺寸  500 x 610 x 640 mm
 重量  45Kg
 类型  手动的
 测量样本大小  ≤ 8", 12"
 测量方法  无连接的
 测量原理  反射计
 特点
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
Print Function of Each View & Data Saving
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 活动范围  200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
 测量范围  100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
 光斑尺寸  40㎛/20㎛, 4㎛(option)
 测量速度  1~2 sec./site
 应用领域  All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
 Intended for Wafer Measurement & OLED
 选项
 Programmable Auto Z Stage
 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
 焦点  Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
 附带照明  12v 100W Halogen Lamp

ST4000光学薄膜测厚仪,ST4000-DLX

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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